Em coletiva de imprensa realizada no final da manhã desta quarta-feira, 18 de janeiro, o Ministério da Educação (MEC) divulgou o cronograma das edições do primeiro semestre de 2017 do Sistema de Seleção Unificada (SiSU), Programa Universidade para Todos (ProUni) e Programa de Financiamento Estudantil (FIES).
Confira abaixo as datas de inscrições:
SiSU 2017/1 - 24 a 27 de janeiro
ProUni 2017/1 - 30 de janeiro a 2 de fevereiro
FIES 2017/1 - 6 a 9 de fevereiro
O SiSU 2017/1 vai oferecer 238.397 vagas em 131 instituições públicas de ensino superior. A pesquisa de vagas será liberada amanhã, 19, no site sisu.mec.gov.br. As regras vão continuar as mesmas, sendo permitido ao candidato escolher até duas opções de cursos.
No começo do mês, o MEC já havia informado que as inscrições para novas vagas do FIES seriam abertas em fevereiro. Desde o dia 9 de novembro, o sistema do FIES recebe inscrições para renovação de contratos. O Fundo Nacional de Desenvolvimento da Educação (FNDE) garantiu um orçamento de R$ 21 bilhões para o FIES 2017. Sobre o ProUni ainda não foi divulgada nenhuma informação além do período de inscrição.
Veja quem pode participar do ProUni
Tanto o SiSU quanto o ProUni e FIES são exclusivos para quem participou da edição de 2016 do Exame Nacional do Ensino Médio (Enem). Veja abaixo as notas exigidas no Enem para participar de cada um dos programas:
SiSU | O candidato deve ter nota maior que zero na redação do Enem para concorrer às vagas. No entanto, as instituições possuem autonomia para exigir pontuação mínima e colocar pesos em cada área do exame; |
ProUni | média total (provas + redação) de 450 pontos; |
Fies | média de 450 pontos nas provas objetivas e nota acima de zero na redação. |
Enem 2016
Na mesma coletiva de imprensa que divulgou o cronograma do SiSU, ProUni e FIES, o MEC anunciou o resultado do Enem 2016. As notas podem ser consultadas na Página do Participante e no aplicativo oficial do Enem. O Ministério da Educação também abriu uma consulta pública sobre possíveis mudanças nas próximas edições do exame.